Исследовательские сектора

Сектор просвечивающей электронной микроскопии

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 производства компании «JEOL Ltd.» (Япония) со STEM-системой и системой энергодисперсионного микро(нано)анализа INCA Energy TEM 350 с кристаллом X-MAX 80 компании «OXFORD Instruments Analytical Limited» (Великобритания).

Ускоряющее напряжение: до 200 кВ Разрешение: до 0,19 нм Приборное увеличение: до х1 500 000 Определяемые элементы: от Be до Pu Энергетическое разрешение детектора: 127 эВ

Изучение структуры материалов, идентификация кристаллических фаз методами микродифракции, определение размера частиц и кристаллов, качественный и количественный элементный микро(нано)анализ в точечной области, построение профилей распределения элементов вдоль заданной линии, построение карт и изображений распределения элементов на выбранном участке, построение диаграмм рассеяния элементов и фазовых карт.

Исследователи:

• Ведущий инженер-исследователь, физик-математик Мисевра Сергей Яковлевич, e-mail: SMisevra@ektu.kz
• Инженер-исследователь, д.ф.-м.н. РФ, Алонцева Дарья Львовна, e-mail: DAlontseva@ektu.kz
• Инженер-исследователь, магистр материаловедения Джес Алексей Владимирович, e-mail: ADzhes@ektu.kz

Пробоподготовка к ПЭМ

Система прецизионной ионной полировки PIPS 691. Получение тонких пленок для ПЭМ.	Устройство автоматического электролитического утонения TenuPol-5. Получение тонких фольг для ПЭМ.

Пробоподготовка:

• Инженер-лаборант, магистр материаловедения Джес Алексей Владимирович, e-mail: ADzhes@ektu.kz

Сектор растровой (сканирующей) электронной микроскопии

Растровый электронный микроскоп JSM-6390LV производства компании «JEOL Ltd.» (Япония) с системой энергодисперсионного микроанализа INCA Energy Penta FET X3 компании «OXFORD Instruments Analytical Limited» (Великобритания).

Ускоряющее напряжение: до 30 кВ Разрешение: до 3 нм Приборное увеличение: до х300 000 Определяемые элементы: от B до U Энергетическое разрешение детектора: 137 эВ

Изучение топографии и микроструктуры поверхности проб и образцов (в т.ч. диэлектриков – в режиме низкого вакуума), качественный и количественный элементный микроанализ в точечной области, построение профилей распределения элементов вдоль заданной линии, построение карт распределения элементов на выбранном участке.

Исследователи:

• Инженер-исследователь, магистр физики Садибеков Айдар Бекадилович, e-mail: ASadibekov@ektu.kz
• Инженер-исследователь, доктор PhD (по специальности - физика) Русакова Алена Викторовна, e-mail: ARussakova@ektu.kz ARussakova@gmail.com

Пробоподготовка к РЭМ

	Станок отрезной высокоточный Minitom производства «Struers» (Дания). Высокоточное отрезание металлических, минералогических и керамических образцов для исследований методами растровой электронной и оптической микроскопии.
	Станок шлифовально-полировальный LaboPol-5 с устройством для автоматической шлифовки и полировки образцов LaboForce-3 производства «Struers» (Дания). Шлифовка и полировка металлических, минералогических и керамических образцов для исследований методами растровой электронной и оптической микроскопии.

Пробоподготовка:

• Инженер-лаборант, магистр материаловедения Сағидұғұмар Амангелді Нұрмұханбетұлы

 

Сектор рентгеновской дифрактометрии

Рентгеновский дифрактометр X’Pert PRO производства компании «PANalitical» (Нидерланды).

Диапазон измерения углов дифракции 2θ: от -12º до +140º Минимальный шаг сканирования: 0,001º

Качественный, полуколичественный фазовый анализ, определение параметров ячейки и ориентировки кристаллов, анализ структур поликристаллов, микронапряжений и текстур.

Исследователи:

• инженер-исследователь, к.ф.-м.н., Прохоренкова Надежда Валерьевна, e-mail: NProkhorenkova@ektu.kz.

Сектор масс-спектрометрии и атомно-эмиссионной спектрометрии

Масс-спектрометр с индуктивно связанной плазмой ICP-MS Agilent 7500cx производства компании «Agilent Technologies» (США).

Минимальная определяемая концентрация элементов в жидких объектах: до 10-9 г/дм3.  в твердых веществах: до 1 ppb.

Количественный элементный анализ неорганических веществ и материалов (неорганических жидкостей, воды, пород, руд, металлов, керамики и т.д.), изотопный анализ.

Атомно-эмиссионный спектрометр микроволновой плазмы Agilent 4100 производства компании «Agilent Technologies» (США).

Минимальная определяемая концентрация элементов в жидких объектах:  до 10-7 г/дм3 в твердых веществах:  до 0,1 ppm

Количественный элементный анализ неорганических веществ и материалов.

Исследователь:

• Инженер-исследователь, магистр химии Полежаев Станислав Николаевич, e-mail: SPolezhaev@ektu.kz

 

Пробоподготовка к масс-спектрометрии и атомно-эмиссионной спектрометрии

Печь микроволновая для разложения проб Multiwave 3000 производства компании «Anton Paar» (Австрия). Кислотное разложение порошковых проб для масс-спектрометрии и атомно-эмиссионной спектрометрии.

Пробоподготовка:

• Лаборант, бакалавр металлургии Забавская Анжела Владимировна

Сектор рентгенофлуоресцентной спектрометрии, спектрофотометрии и колориметрии

Рентгенофлуоресцентный спектрометр СРВ-1М производства ТОО «ТехноАналит» (РК, Усть-Каменогорск).

Диапазон измеряемых энергий: от 2 до 30 кэВ Предел измерения массового содержания: от 0,1% до 100% Энергетическое разрешение детектора: менее 180 эВ

Качественное и количественное определение содержания (массовых долей) химических элементов в твердых, жидких и порошкообразных пробах, экспресс-анализ минералогических, биофизических, биологических, экологических объектов.

Спектрофотометр «UNICO-1201» производства компании «UNICO» (USA).
	Спектральный диапазон длин волн: 325-1000 нм Полоса пропускания: 5нм Погрешность установки длины волны, не более: 2 нм Повторяемость установки длины волны: 1 нм Рассеянный свет (помехи лучистой энергии): 0.5%Т при 340 и 400 нм Фотометрический диапазон: коэффициент пропускания (Т) от 0 до 125%, оптическая плотность (А) от 0 до 3.0 Диапазон значений концентрации: от 0 до 1999 С Погрешность определения коэффициента пропускания, не более: 1.0%Т Рабочая длина кювет: 5-10-20-30-40-50 мм
Измерение коэффициентов пропускания, оптической плотности и концентрации растворов. Колориметр портативный DR890 (HACH2129) производства компании «United Products & Instruments, Inc.» (США).
	Используемые длинны волн, нм: 420, 520, 560, 610 Точность длины волны: ±1 нм  Режимы измерения: пропускание, поглощение, концентрация  Фотометрический диапазон, А: 0-2 Фотометрическая воспроизводимость при 1 А, А: ±0,005 Фотометрическая линейность при 0-1 А, А: ±0,002 Светорассеяние, %Т при 400 нм: <1
Определение содержания ионов элементов и органических веществ в растворах.

Комплекс измерительный для мониторинга радона, торона и их дочерних продуктов «Альфарад плюс» производства ООО «НТМ-Защита» (РФ)

Блок измерения эквивалентной объемной активности (ЭРОА) Диапазон измерения ЭРОА радона: от 1 до 1*106 Бк/м3 Диапазон измерения ЭРОА торона, от 0,5 до 1*104 Бк/м3 Блок измерения объемной активности (ОА) Диапазон измерения ОА радона-222 в воздухе: от 1 до 2*106 Бк/м3 Диапазон измерения 216Po(ThA): От 1*10-3 до 1*102 имп./с Диапазон измерения ОА радона-222 в пробах воды: от 6 до 800 Бк/л Диапазон измерения плотности и потока радона с поверхности грунта: от 20 до 103 мБк/с*м2 Диапазон измерения ОА радона-222 с предварительным отбором проб воздуха в пробоотборники: от 20 до 107 Бк/м3 Диапазон измерения ОА радона-222 в пробах почвенного воздуха: от 103 до 106 Бк/м3

Экспрессные измерения и непрерывный мониторинг объемной активности (ОА) радона-222 (222Rn) и количества распадов 216Po (ThA), а также эквивалентной объемной активности (ЭРОА) радона и торона-220 (220Тn) в воздухе жилых, рабочих помещений и на открытом воздухе. Измерения содержание радона-222 в воде, почвенном воздухе, определение плотности потока радона с поверхности грунта.

Исследователь:

• Инженер-исследователь, магистр химии Полежаев Станислав Николаевич, e-mail: SPolezhaev@ektu.kz

Сектор взвешивания

Весы электронные аналитические AUM210-E производства компании «Abbota Corporation» (США).	Весы лабораторные ВЛТЭ-1100 производства OOO «Госметр» (Россия).
Взвешивание проб и образцов до 210 г с точностью до 0,1 мг.	Взвешивание проб и образцов до 1100 г с точностью до 0,01 г.

Взвешивание:

• Лаборант, бакалавр металлургии Забавская Анжела Владимировна