Проведение металлографических исследований на оборудовании микроскоп Olympus BX51 с применением вычислительной станции включающей в себя программу Mineral C7 (Япония)

Микроскоп применяется для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов.

9 Технические характеристики:

  • Универсальная UIS оптическая система;
  • Осветитель отраженного света (BX-RLA2);
  • Увеличение тубуса 10х;
  • Окулярный тубус, U-BI30-2 широкопольный бинокуляр;
  • Пакет анализа изображений «Минерал С7» для расчета структурных параметров минерального сырья;
  • Максимальное увеличение микроскопа до х1000.