Электронно микроскопический анализ

Beschreibung: Рассматривает принцип работы современного многолинзового электронного микроскопа, аберрации электронной оптики разрешающая способность и глубина фокуса и практические режимы работы. Рассматриваются дифракционные условия формирования изображений, методы индицирования дифракционных картин, принцип работы растрового электронного микроскопа и методики препарирования образцов для электронной микроскопии.

Betrag der Credits: 5

Arbeitsintensität der Disziplin:

Komponente: Компонент по выбору

Zyklus: Базовые дисциплины

Цель

• Создание у студентов основ теоретической подготовки в области электронной микроскопии, позволяющей будущим магистрантам ориентироваться в потоке научной и технической информации и обеспечивающей им возможность использовать новые физические принципы в тех областях техники, в которых они специализируются.

Задача

• Усвоение студентами основных физических явлений и законов классической физики, методов физического исследования. Выработка у студентов умения и навыков решения обобщенных типовых учебных задач дисциплины (теоретических и экспериментально-практических). Ознакомление студентов с измерительной и исследовательской аппаратурой, выработка умения проводить экспериментальные исследования, обрабатывать результаты эксперимента и анализировать их.

Результат обучения: знание и понимание

• интерпретировать результаты электронно микроскопических исследований; Владеть: подходами различных методик электронно микроскопического исследования для анализа веществ и материалов

Результат обучения: применение знаний и пониманий

• Выработка у студентов умения и навыков решения обобщенных типовых учебных задач дисциплины (теоретических и экспериментально-практических).

Результат обучения: формирование суждений

• Формирование у студентов научного мышления и диалектического мировоззрения, правильного понимания границ применимости различных физических понятий, законов, теорий и умения оценивать степень достоверности результатов, полученных с помощью электронно микроскопических методов

Результат обучения: коммуникативные способности

• готовность к кооперации с коллегами, работе в коллективе

Результат обучения: навыки обучения или способности к учебе

• Развитие у студентов творческого мышления, навыков самостоятельной познавательной деятельности, умения моделировать физические ситуации с использованием электронного микроскопа и компьютера.

Основная литература

• 1. 1. Д. Брандон, У. Каплан. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля. М.: Техносфера, 2004. 384 с. (в качестве начального чтения, с оговорками относительно перевода терминов; есть электронная английская версия 2-го издания за 2008 г.) 2. Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П., Джой Д., Фиори Ч., Лифшин Ф. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: в двух книгах. Пер. с англ. — М.: Мир, 1984. 303 с. (есть электронная версия этого издания; есть также электронный вариант более поздней версии 2003 г на английском языке) 3. V.D. Scott, G. Love. Quantitative electron-probe microanalysis. - Ellis Horwood Ltd., 1983, 345 p. (есть электронный версия) 4. D.B. Williams, C.B. Carter. Transmission Electron Microscopy. A Textbook for Materials Science. In 4 Books – Plenum Press New York&London, 1996 (есть электронная версия). 5. A Guide to Scanning Microscope Observation http://www.jeolusa.com/DesktopModules/Bring2mind/DMX/Download.aspx?Command=Core_Download&EntryId=1&PortalId=2&TabId=320. (очень удачное руководство для начинающего пользователя РЭМ) 6. Л.Н. Мазалов. Рентгеновские спектры. Новосибирск: ИНХ СО РАН, 2003. 7. Д. Синдо, Т. Оикава, Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия. Пер. с англ. - М.: Техносфера, 2006, 256 с. 1. Основная литература 1. Хейденрайх Р. Основы просвечивающей электронной микроскопии.- М.: Мир, 1966. – 471 с. 2. Томас Г., Гориндж М.Дж. Просвечивающая электронная микроскопия материалов. – М.: Наука, 1983. – 317 с. 3. Утевский Л.М. Дифракционная электронная мироскопия в металловедении. – М.: Металлургия, 1973. – 584 с. 4. Эндрюс К., Дайсон Д., Киоун С. Электронограммы и их интерпретация. – М.: Мир, 1971. – 256 с. 5. Бушнев Л.С., Колобов Ю.Р., Мышляев М.М. Основы электронной микроскопии. – Томск,ТГУ, 1989.- 218 с. 6. Практические методы в электронной микроскопии/ Под ред. О.М.Глоэра.- Машиностроение,1980.- 375 с. Дополнительная литература 1. Матвеев А.Н. Электричество и магнетизм.- М.: Высшая школа, 1983. 2. Матвеев А.Н. Оптика. - М.: Высшая школа, 1985. 3. Матвеев А.Н. Атомная физика.- М.: Высшая школа, 1990. 4. Фриганг Е.В. Руководство к решению задач по курсу общей физики. – М.: Высшая школа, 1978. 5.Чертов А.Г. Единицы физических величин. – М.: Высшая школа, 6. Инструкции и описания приборов, имеющихся в исследовательской лаборатории Г-1-111 (Электронный микроскоп, вакуумная напылительная установка, оптический микроскоп). 7. International Conference on NANO-Structures Seif Assembling. Congress Center, Aix-en-Provence, France