Основы электронно-микроскопических исследований

Зимановская Наталья Александровна

*InstructorProfile(zh-CN)*

内容描述: Данная дисциплина отвечает спектру вопросов относительно современных электронно-микроскопических исследований и их использования в геологической области. Курс рассматривает изучение источников электронных просветляющих, сканирующих микроскопов, ИСП-МС с индуктивно-связной плазмой, вопросов теоретической и прикладной наноминералогии.

贷款数: 6

Пререквизиты:

  • Рудничная геология
  • Современные проблемы геологии

*СomplexityDiscipline(zh-CN)*:

*TypesOfClasses(zh-CN)* *hours(zh-CN)*
*Lectures(zh-CN)* 30
*PracticalWork(zh-CN)* 30
*LaboratoryWork(zh-CN)*
*srop(zh-CN)* 30
*sro(zh-CN)* 90
*FormOfFinalControl(zh-CN)* экзамен
*FinalAssessment(zh-CN)* билеты/тест

零件: Вузовский компонент

循环次数: Профилирующие дисциплины

Цель
  • Целью настоящей дисциплины является знакомство студентов с основами электронной микроскопии, включающими строение и принципы работы электронных микроскопов, основных методик электронно-микроскопических исследований, а также пробоподготовки для них. Дисциплина ориентировано на студентов ВУЗов специальности «Геология и разведка месторождений полезных ископаемых», поэтому большинство примеров использования данного оборудования приводится для изучения минерального сырья.
Задача
  • Задачи дисциплины Основы электронно-микроскопических исследований следующие: -изучение принципов работы электронных микроскопов; - изучение устройства растровых о просвечивающих электронных микроскопов; - освоение методик пробоподготовки минерального сырья для электронно-микроскопических исследований; - освоение методик исследования минерального сырья с использованием электронных микроскопов и интерпретации результатов.
Результат обучения: знание и понимание
  • Знание основ электронной микроскопии, порядка работы на электронном микроскопе и косвенные методы исследования минералов
Результат обучения: применение знаний и пониманий
  • Применять и использовать электронно-микроскопические исследования руд и пород месторождений полезных ископаемых.
Результат обучения: формирование суждений
  • Выполнение проектно-конструкторской работы, самостоятельное проектирование, организация и проведение геологических исследований
Результат обучения: коммуникативные способности
  • Эффективно работать в качестве члена или руководителя коллектива, демонстрировать отвественность за результат работы.
Результат обучения: навыки обучения или способности к учебе
  • Совершенствовать существующие и внедрять передовые методы ведения исследований и проведения геологоразведочных работ
*TeachingMethods(zh-CN)*

В процессе изучения дисциплины используется как традиционные, так и инновационные технологии интерактивного обучения.

*AssessmentKnowledge(zh-CN)*

Преподаватель проводит все виды работ текущего контроля и выводит соответствующую оценку текущей успеваемости обучающихся два раза в академический период. По результатам текущего контроля формируется рейтинг 1 и 2. Учебные достижения обучающегося оцениваются по 100-балльной шкале, итоговая оценка Р1 и Р2 выводится как средняя арифметическая из оценок текущей успеваемости. Оценка работы обучающегося в академическом периоде осуществляется преподавателем в соответствии с графиком сдачи заданий по дисциплине. Система контроля может сочетать письменные и устные, групповые и индивидуальные формы.

*Period2(zh-CN)* *TypeOfTask(zh-CN)* *Total(zh-CN)*
1  *Rating(zh-CN)* Конспекты лекций 0-100
Практические работы
Рубежный контроль
2  *Rating(zh-CN)* Конспекты лекций 0-100
Практические работы
Рубежный контроль
*TotalControl(zh-CN)* экзамен 0-100
*PolicyAssignmentTask(zh-CN)*
*TypeOfTask(zh-CN)* 90-100 70-89 50-69 0-49
Excellent *Grade4(zh-CN)* *Grade3(zh-CN)* *Grade2(zh-CN)*
Работа на практических (семинарских) занятиях выставляется, если обучающийся демонстрирует сформированные систематические знания, умения и навыки их практического использования. если при демонстрации знаний, умений и навыков студент допускает отдельные неточности (пробелы, ошибочные действия) непринципиального характера выставляется при несистематических знаниях, демонстрации отдельных (но принципиально значимых навыков) и затруднениях в демонстрации других навыков. если знания и умения фрагментарны, а навыки отсутствуют.
Подготовка и защита заданий по заданным темам в самостоятельной работе обучающегося выставляется, если обучающийся демонстрирует сформированные систематические знания, умения и навыки их практического использования. если при демонстрации знаний, умений и навыков студент допускает отдельные неточности (пробелы, ошибочные действия) непринципиального характера выставляется при несистематических знаниях, демонстрации отдельных (но принципиально значимых навыков) и затруднениях в демонстрации других навыков. если знания и умения фрагментарны, а навыки отсутствуют.
Ответ на тесты рубежного контроля выставляется, если обучающийся демонстрирует сформированные систематические знания, умения и навыки их практического использования. если при демонстрации знаний, умений и навыков студент допускает отдельные неточности (пробелы, ошибочные действия) непринципиального характера выставляется при несистематических знаниях, демонстрации отдельных (но принципиально значимых навыков) и затруднениях в демонстрации других навыков. если знания и умения фрагментарны, а навыки отсутствуют.
*EvaluationForm(zh-CN)*

Итоговая оценка знаний обучающего по дисциплине осуществляется по 100 балльной системе и включает:

  • 40% результата, полученного на экзамене;
  • 60% результатов текущей успеваемости.

Формула подсчета итоговой оценки:

И= 0,6 Р1+Р2 +0,4Э
2

 

где, Р1, Р2 – цифровые эквиваленты оценок первого, второго рейтингов соответственно; Э – цифровой эквивалент оценки на экзамене.

Итоговая буквенная оценка и ее цифровой эквивалент в баллах:

Буквенная система оценки учебных достижений обучающихся, соответствующая цифровому эквиваленту по четырехбалльной системе:

Оценка по буквенной системе Цифровой эквивалент Баллы (%-ное содержание) Оценка по традиционной системе
A 4.0 95-100 Отлично
A- 3.67 90-94
B+ 3.33 85-89 Хорошо
B 3.0 80-84
B- 2.67 75-79
C+ 2.33 70-74
C 2.0 65-69 Удовлетворительно
C- 1.67 60-64
D+ 1.33 55-59
D 1.0 50-54
FX 0.5 25-49 Неудовлетворительно
F 0 0-24
Темы лекционных занятий
  • Природа электронных лучей
  • Принципиальное устройство электронного микроскопа
  • Типы электронных микроскопов.
  • Разрешающая способность электронного микроскопа. Формирование изображения в электронном микроскопе
  • Явление дифракции электронов. Дифракционный контраст в электронной микроскопии
  • Современная просвечивающая электронная микроскопия Устройство просвечивающего электронного микроскопа
  • Растровые электронные микроскопы и рентгеновские микроанализаторы. Устройство растрового электронного микроскопа.
  • Приставки к электронным микроскопам и приборы для препарирования образцов
  • Порядок работы на электронном микроскопе. Косвенные методы исследования минералов
  • Особенности интерпретации электронных микрофотографий.
  • Принципы расшифровки микродифракционных картин
  • Возможности и ограничения применения электронной микроскопии в минералогических исследованиях
  • Результаты электронно-микроскопического изучения некоторых минералов
  • Особенности интерпретации электронных микрофотографий.
  • Принципы расшифровки микродифракционных картин
Основная литература
  • 1 Электронная микроскопия : учеб. пособие / А. И. Власов, К. А. Елсуков, И. А. Косолапов. – М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. – 168 с. 2 Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия. – М. : Техносфера, 2006. 3 Утевский Л. М. Дифракционная электронная микроскопия. – М. : Металлургия, 1973. 4 Основы аналитической электронной микроскопии. / Под ред. Дж. Гренг [и др.]. – М. : Металлургия, 1990. – 584 с. 5 Спенс Дж. Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения. – М. : Наука, 1986. – 320 с.
Дополнительная литература
  • 1 Нанотехнологии в электронике : монография / под ред. : Ю. А. Чаплыгина. - М. : Техносфера, 2005. - 443 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-059-8 : 1495 т. 2 Микроанализ и растрова электронная микроскопия / ред.: Ф. Морис, И. Б. Боровского ; пер. с фр. Г. Д. Стельмаковой. - М. : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. - Библиогр.: с. 10, 392-403. 3 Современная электронная микроскопия в исследовании вещества : сборник / АН СССР. Ин-т кристаллографии. - М. : Наука, 1982. - 285 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. 4 Томас, Г. Просвечивающая электронная микроскопия материалов / Г. Томас, М. Д. Гориндж ; пер. с англ., под ред. Б. К. Вайнштейна. - М. : Наука, 1983. - 318 с. - Библиогр.: с. 310-317