Электронды-микроскопиялық зерттеулердің негіздері

Сипаттама: Бұл пән қазіргі электронды-микроскопиялық зерттеулерге қатысты сұрақтар спектрін қамтиды және оларды геология саласы үшін қолдану. Курс электронды жарық беретін, сканерлейтін микроскоптардың құрылысын, индуктивті байланысқан плазмамен ICP-MS , теориялық және қолданбалы наноминералогия мәселелерін зерттеуді қамтиды.

Кредиттер саны: 6

Пререквизиты:

• Кенді геология
• Геологияның қазіргі проблемалары

Пәннің еңбек сыйымдылығы:

Компонент: ЖОО компоненті

Цикл: Кәсіптік пәндер

Мақсат

• Электрондық микроскопия негіздерін білу, электрондық микроскопта жұмыс істеу ретін білу және минералдарды зерттеу қосымша әдістерін қолдана білу. Пайдалы қазбалар кенорындардың кендермен жыныстардың электрондық-микроскопиялық зерттеулерді қолдана білу

Міндет

• Пән тапсырмасы – негізгі электрондық микроскопия негіздерін білу, электрондық микроскопта жұмыс істеу ретін білу және минералдарды зерттеу қосымша әдістерін қолдана білу. Пайдалы қазбалар кенорындардың кендермен жыныстардың электрондық-микроскопиялық зерттеулерді қолдана білу

Оқыту нәтижесі: білу және түсіну

• Электрондық микроскопия негіздерін білу, электрондық микроскопта жұмыс істеу ретін білу және минералдарды зерттеу қосымша әдістерін қолдана білу.

Оқыту нәтижесі: білім мен ұғымды қолдану

• Пайдалы қазбалар кенорындардың кендермен жыныстардың электрондық-микроскопиялық зерттеулерді қолдана білу

Оқыту нәтижесі: талқылай білуді қалыптастыру

• Жобалау-конструкторлық жұмыстарды өздік жобалау, геологиялық зерттеулерді ұйымдастырып өткізу білу

Оқыту нәтижесі: коммуникативтік қабілеттіліктер

• Топ ішінде ьастық немесе жұмысшы ретінде нәтижелі істеу, жұмыс нәтижелеріне жауапкершілік таныту

Оқыту нәтижесі: Оқу дағдылары немесе сабаққа қабілеттілігі

• Бар болған және жаңа әдістерді зерттеулермен геология барлау жұмыстарын өткізу кезінде еңгізу.

Оқыту әдістері

Пәнді оқу барысында интерактивті оқытудың дәстүрлі және инновациялық технологиялары қолданылады.

Білім алушының білімін бағалау

Оқытушы ағымдағы бақылау жұмыстарының барлық түрлерін жүргізеді және академиялық кезеңде екі рет білім алушылардың ағымдағы үлгеріміне тиісті баға береді. Ағымдағы бақылау нәтижелері бойынша 1 және 2 рейтинг қалыптастырылады. Білім алушының оқу жетістіктері 100 балдық шкала бойынша бағаланады, Р1 және Р2 қорытынды бағасы ағымдағы үлгерім бағасынан орташа арифметикалық ретінде шығарылады. Академиялық кезеңде білім алушының жұмысын бағалауды пән бойынша тапсырмаларды тапсыру кестесіне сәйкес оқытушы жүзеге асырады. Бақылау жүйесі жазбаша және ауызша, топтық және жеке формаларды біріктіре алады.

Жұмыс түрлері бойынша оқыту нәтижелерін бағалау саясаты

Бағалау нысаны

Пән бойынша білім алушының білімін қорытынды бағалау 100 баллдық жүйе бойынша жүзеге асырылады және:

• Емтиханда алынған нәтиженің 40%;
• Ағымдағы үлгерімнің 60% - ы.

Қорытынды бағаны есептеу формуласы:

 

мұндағы, Р1, Р2-тиісінше бірінші, екінші рейтингті бағалаудың сандық эквиваленттері;

Э - емтихандағы бағаның сандық баламасы.

Қортынды әріптік бағасы және оның балдық сандық эквиваленті:

Төрт балдық жүйе бойынша цифрлық баламаға сәйкес келетін білім алушылардың оқу жетістіктерін бағалаудың әріптік жүйесі:

Дәріс сабақтарының тақырыптары

• Электрондық сәулелердің табиғаты
• Электронды микроскоптың негізгі құрылғысы
• Электронды микроскоптардың түрлері
• Электронды микроскоптың рұқсат ету қабілеті
• Электрондардың дифракция құбылысы
• Қазіргі заманғы электронды микроскопия мөлдір электронды микроскоптың құрылғысы
• Растрлық электронды микроскоптар және рентгендік микроанализаторлар
• Электронды микроскоптарға арналған приставкалар және үлгілерді препараттауға арналған аспаптар
• Электронды микроскоптағы жұмыс тәртібі
• Электрондық микрофотографияларды түсіндіру ерекшеліктері
• Микродифракциялық суреттерді декодтау принциптері
• Принципы декодирования микродифракционных изображений
• Кейбір минералдарды электронды микроскопиялық зерттеу нәтижелері
• Электрондық микрофотографияларды түсіндіру ерекшеліктері
• Микродифракциялық суреттерді декодтау принциптері

Негізгі әдебиет

• 1 Электронная микроскопия : учеб. пособие / А. И. Власов, К. А. Елсуков, И. А. Косолапов. – М. : Изд-во МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2011. – 168 с. 2 Синдо Д., Оикава Т. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия. – М. : Техносфера, 2006. 3 Утевский Л. М. Дифракционная электронная микроскопия. – М. : Металлургия, 1973. 4 Основы аналитической электронной микроскопии. / Под ред. Дж. Гренг [и др.]. – М. : Металлургия, 1990. – 584 с. 5 Спенс Дж. Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения. – М. : Наука, 1986. – 320 с.

Қосымша әдебиеттер

• 1 Нанотехнологии в электронике : монография / под ред. : Ю. А. Чаплыгина. - М. : Техносфера, 2005. - 443 с. : рис., табл. - Библиогр. в конце глав. - ISBN 5-94836-059-8 : 1495 т. 2 Микроанализ и растрова электронная микроскопия / ред.: Ф. Морис, И. Б. Боровского ; пер. с фр. Г. Д. Стельмаковой. - М. : Металлургия, 1985. - 408 с. : ил. - Библиогр.: с. 10, 392-403. 3 Современная электронная микроскопия в исследовании вещества : сборник / АН СССР. Ин-т кристаллографии. - М. : Наука, 1982. - 285 с. : ил. - Библиогр. в конце ст. 4 Томас, Г. Просвечивающая электронная микроскопия материалов / Г. Томас, М. Д. Гориндж ; пер. с англ., под ред. Б. К. Вайнштейна. - М. : Наука, 1983. - 318 с. - Библиогр.: с. 310-317