Сектор просвечивающей электронной микроскопии

Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 производства компании «JEOL Ltd.» (Япония) со STEM-системой и системой энергодисперсионного микро(нано)анализа INCA Energy TEM 350 с кристаллом X-MAX 80 компании «OXFORD Instruments Analytical Limited» (Великобритания).

• Ускоряющее напряжение: до 200 кВ
• Разрешение: до 0,19 нм
• Приборное увеличение: до х1 500 000
• Определяемые элементы: от Be до Pu
• Энергетическое разрешение детектора: 127 эВ

Изучение структуры материалов, идентификация кристаллических фаз методами микродифракции, определение размера частиц и кристаллов, качественный и количественный элементный микро(нано)анализ в точечной области, построение профилей распределения элементов вдоль заданной линии, построение карт и изображений распределения элементов на выбранном участке, построение диаграмм рассеяния элементов и фазовых карт.