Сектор рентгеновской дифрактометрии

Рентгеновский дифрактометр X’Pert PRO производства компании «PANalitical» (Нидерланды).

• Диапазон измерения углов дифракции 2θ: от -12º до +140º
• Минимальный шаг сканирования: 0,001º

Качественный, полуколичественный фазовый анализ, определение параметров ячейки и ориентировки кристаллов, анализ структур поликристаллов, микронапряжений и текстур.